公司介紹
產品介紹
光學檢測
設備-光罩
設備-FPD
設備-晶圓
模組-FPD
模組-半導體
自動化方案
半導體設備
投資人專區
聯絡我們
ENGLISH
繁體中文
ENGLISH
ENGLISH
繁體中文
首頁
產品介紹
光學檢測
設備-光罩
光學檢測
設備-光罩
設備-FPD
設備-晶圓
模組-FPD
模組-半導體
自動化方案
半導體設備
光罩檢測機 Basic D-03FS
光罩檢測機 Basic D-03FS
玻璃面: 粉塵、水痕、髒污 膜面: 粉塵、刮傷、破洞 圖形區: 粉塵
Feature
Pellicle side
Glass side
返回列表頁