EUV 光罩檢測機 Aurora-E
EUV 光罩檢測機 Aurora-E
正面:粉塵
膜面:粉塵,破洞
EUV膜框:粉塵
玻璃面:粉塵
穿膜檢線路區:粉塵
Feature

Pellicle side

Glass side